周期1~3个工作日项目三坐标检测
校准
校准是提高三坐标检测精度的关键步骤。通过定期校准机器，可以确保机器的各部件处于正确的位置和角度。此外，校准还可以纠正由于机器老化或部件磨损导致的任何偏差。
纳米级扫描电子显微镜（SEM）探索微观世界：扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描，激发二次电子等信号来成像，其分辨率可达到纳米级，甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域，SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具，为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。
光学干涉测量技术在精密加工中的应用：光学干涉测量技术利用光的干涉原理，通过测量光波在物体表面反射或透射时产生的干涉图样，来测定物体的形状、表面粗糙度等参数。该技术具有高灵敏度和非接触测量的优点，在光学元件加工、半导体制造、微纳米加工等领域得到广泛应用，推动了这些领域向更和更复杂结构的发展。
自动化精密检测线的智能化升级：随着智能制造的兴起，自动化精密检测线成为提升生产效率和质量稳定性的关键。这些检测线集成了机器视觉、人工智能、大数据分析等技术，能够实现对产品尺寸的实时、测量，并对测量数据进行快速分析和处理，及时发现并纠正生产过程中的偏差，实现生产过程的智能化、化控制。
形位公差，一般也称为几何公差，是机械加工后零件的实际要素相对于理想要素所允许的误差范围，这些误差包括形状误差和位置误差。形位公差是零件设计和制造过程中不可或缺的重要参数，它直接影响到产品的质量和性能。
公差原则是正确处理尺寸公差与形位公差之间关系的规定。常见的公差原则包括：
立原则：尺寸公差与形位公差彼此无关，分别满足各自的要求。
包容要求：用于单一要素，表示实际要素应遵守大实体边界，其局部实际尺寸不得超出小实体尺寸。
